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數(shù)字碼型發(fā)生器泰克邏輯分析儀
特點 | 優(yōu)勢 |
| 300 Mb/s 單倍數(shù)據(jù)速率 600 Mb/s 雙倍數(shù)據(jù)速率 | 支持更高速度邏輯，例如 FPGA、嵌入式微處理器、內存和串行 I/O 總線 |
| 可擴展至最高 256 位寬度 | 同時激勵被測設備的多路輸入，包括總線、串行輸入和控制線路 |
| 可變電壓電平和字節(jié)寬度時基調節(jié) | 提供時基和電壓電平的精細調節(jié)以實現(xiàn)“極端狀況”系統(tǒng)測試 |
| 外部時鐘輸入和外部觸發(fā)輸出 | 將碼型發(fā)生器輸出同步至被測系統(tǒng) |
| 捕獲 TLA 上的數(shù)據(jù)并將其導出到 PG 進行回放 | 簡單的流程可讓客戶快速創(chuàng)建自己的數(shù)據(jù)碼型 |
| PGApp 軟件創(chuàng)建的數(shù)據(jù)文件可帶中斷、循環(huán)以及依據(jù)外部事件的條件執(zhí)行 | 提高輸出碼型的靈活性，又節(jié)省碼型發(fā)生器內存 |
| 用于常見測試的預編程碼型，例如內存測試、計數(shù)器、時鐘 | 節(jié)省生成常見碼型所需的時間 |
| 多種探頭 | 涵蓋多種不同的激勵應用需要 |
數(shù)字碼型發(fā)生器泰克邏輯分析儀
PG3 數(shù)字碼型發(fā)生器系列是對設計進行激勵所用的功能強大的通用工具。 不同外形和探頭選擇適用于多種應用，為您提供靈活性和擴展能力。
這種數(shù)字碼型發(fā)生器可用于外設/ASIC 仿真和激勵、協(xié)議電平測試建立/保持驗證、生產測試、混合信號測試和一般數(shù)字激勵。 PG3 可結合泰克邏輯分析儀和/或泰克數(shù)字示波器形成完整的測試系統(tǒng)。